3
失效分析
電特性測(cè)試（Electrical Test）
描述：
根據(jù)規(guī)格書中廠商所指定的器件引腳及相關(guān)說(shuō)明，使用半導(dǎo)體管特性圖示儀，檢查復(fù)驗(yàn)樣品是否有開(kāi)路、短路、阻抗異常等問(wèn)題，以此來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品的失效模式。
分析范圍：
半導(dǎo)體元器件、PCBA。
電特性測(cè)試案例：
電特性測(cè)試設(shè)備圖片：
創(chuàng)芯在線實(shí)驗(yàn)室設(shè)備優(yōu)勢(shì)：
1、針對(duì)復(fù)雜的集成電路量測(cè)內(nèi)部二極管特性更快，更直觀的反應(yīng)芯片沒(méi)有有無(wú)開(kāi)路、短路、漏電、參數(shù)漂移等問(wèn)題；
2、該設(shè)備對(duì)二極管、MOS管、三極管基本的參數(shù)能夠更直觀的反應(yīng)其I-V特性；
