檢測標準
AEC-Q100測試項目
AEC-Q100認證是什么
AEC 是”Automotive Electronics Council:汽車電子協(xié)會”的簡稱。
AEC-Q100是AEC的第一個標準,于1994年6月首次發(fā)表,經(jīng)過了十多年的發(fā)展,AEC-Q100已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標準。對于汽車電子元器件來說AEC-Q100是最常見的應力測試(Stress Test)認證規(guī)范。
AEC-Q100主要是針對車載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準,此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài),對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認,特別對產(chǎn)品功能與性能進行標準規(guī)范測試。
AEC-Q100認證對象
集成電路(ICs)
零件工作溫度等級的定義
AEC-Q100有四個溫度等級:0,1,2,3。其中0為最高級別,若能達到0級要求則代表產(chǎn)品可以用于汽車各個部件。
0等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-150°C
1等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-125°C
2等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-105°C
3等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-85°C
AEC-Q100測試標準
AEC-Q100 Rev-H 基于集成電路應力測試認證的失效機理
AEC-Q100-001 邦線切應力測試;
AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試;
AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試;
AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應測試;
AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試;
AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試;
AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級;
AEC-Q100-008 早期壽命失效率(ELFR);
AEC-Q100-009 電分配的評估;
AEC-Q100-010 錫球剪切測試;
AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試;
AEC-Q100-012 12V 系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述。
AEC-Q100測試項目
A組:加速環(huán)境應力測試(6項)
B組:加速壽命模擬測試(3項)
C組:封裝組裝完整性測試(6項)
D組:晶圓制造可靠度測試(5項)
E組:電氣特性確認測試(11項)
F組:瑕疵篩選監(jiān)控測試(2項)
G組:空封器件完整性測試(8項)
AEC-Q100驗證樣品數(shù)量
對于每個測試序列中的詳細測試項目,也在AEC-Q100標準中有詳細的描述,并且每種測試的測試時間也根據(jù)Grade等級給出了不同的要求。在AEC-Q100的測試中,對于序列A中,測試的樣品數(shù)很多都是77個,并且要求0 Fails,這就極大得增加了芯片測試的置信度。
AEC-Q100認證作用
主要用于預防產(chǎn)品可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài),引導零部件供貨商在開發(fā)的過程中就能采用符合該規(guī)范的芯片。AEC-Q100對每一片芯片進行嚴格的質量與可靠度確認,確認制造商所提出的產(chǎn)品規(guī)格表、使用目的、功能說明等是否符合最初需求的功能,以及在連續(xù)使用后功能與性能是否始終如一。
AEC-Q100標準的目標是提高產(chǎn)品的良品率,這對芯片供貨商來說,不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰(zhàn)。不管是投標還是占領市場,要想盡早進入汽車領域并且立足,AEC-Q100系列認證都將會是車規(guī)芯片認證的首選。